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Contribution à l'intégration de la fiabilité dans le flot de conception des circuits intégrés fondée sur l'utilisation d'un langage de description comportementale VHDL-AMS
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Mongellaz, B. |
| Copyright Year | 2004 |
| Abstract | L'evolution croissante des technologies CMOS entraine le renouvellement des techniques de prediction de la fiabilite des circuits. Les methodes statistiques ne suffisent plus pour evaluer la fiabilite des circuits a forte integration. De nouvelles techniques de fiabilite doivent etre definies et mises en place afin de repondre rapidement aux contraintes d'analyse de la fiabilite. Une etude de la fiabilite des circuits CMOS doit etre prise en charge en amont de la production. Pour cela, il est necessaire de tenir compte de la dependance des dispositifs elementaires aux mecanismes de degradation au cours du flot de conception des circuits. A partir d'un modele electrique de degradation du transistor MOSFET, fonde sur le langage de description comportementale VHDL-AMS, il est demontre qu'une prediction de la fiabilite des circuits CMOS est realisable a partir de simulations electriques. Une validation est realisee a partir d'un circuit CMOS de demonstration : l'amplification operationnel de transconductance. L'interet de cette methode est sa reproductibilite pour la construction de modeles VHDL-AMS de degradation de circuits CMOS d'abstraction superieure dans le but d'analyser la fiabilite des systemes. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | http://grenet.drimm.u-bordeaux1.fr/pdf/2004/MONGELLAZ_BENOIT_2004.pdf |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
