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Liaison d'un outil de description des circuits intégrés à un microscope électronique à balayage
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Guiguet, Isabelle |
| Copyright Year | 1985 |
| Abstract | Lors de la mise au point de Circuits Integres (CI) prototypes, le concepteur peut conduire deux types d'analyse : une analyse externe (comportement du circuit a travers ses plots d'entree/sortie), une analyse interne (fonctionnement des CI par prelevement de valeurs logique et electrique en divers points internes du circuit au niveau des composants). L'analyse de points internes du CI peut etre effectuee a l'aide d'un microscope electronique a balayage. Le premiere partie de ce rapport decrira un microscope electronique a balayage, le chapitre suivant presenterai l'outil de test organise autour de cet appareil. Dans le troisieme partie, le langage de description de circuits CALMA sera decrit. La quatrieme partie presentera les methodes utilisables pour mettre au point des circuits prototypes. Enfin, les les deux derniers chapitres seront consacres au travail effectue, en decrivant, respectivement les programmes implantes et les differents tests realises |
| Starting Page | 148 |
| Ending Page | 148 |
| Page Count | 1 |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://dumas.ccsd.cnrs.fr/dumas-00319081/document |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
