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Etude du couplage fort par spectroscopie optique dans des microcavités GaN élaborées sur silicium
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Réveret, François |
| Copyright Year | 2008 |
| Abstract | Ce travail presente une etude spectroscopique par reflectivite, photoluminescence et transmission (de 5 K a 300 K) pour la mise en evidence du couplage fort lumiere-matiere dans des microcavites nitrurees massives et a puits quantiques elaborees sur substrat de silicium. Les experiences sont interpretees grâce a une modelisation utilisant le formalisme des matrices de transfert et prenant en compte les phenomenes d'elargissement homogene et inhomogene des transitions excitoniques. A travers les resultats obtenus sur de nombreuses cavites, l'influence de la geometrie de la microcavite (epaisseur de la cavite, nombre de paires des miroirs de Bragg, nature des miroirs,. . . . ) sur l'obtention du regime de couplage fort a ete etudiee. En s'appuyant sur les resultats experimentaux obtenus, le modele des matrices de transfert a ete compare a un modele quasi-particule. Il a ete demontre que ce dernier n'est realiste que dans le cas ou la reflectivite des miroirs est tres elevee, le modele des matrices de transfert restant le plus fidele aux resultats experimentaux grâce a la prise en compte de la structure reelle de la microcavite. Ce travail de these s'acheve par l'etude de microcavites a deux miroirs dielectriques. Deux approches differentes visant a ameliorer le facteur de qualite de la cavite ainsi que la finesse du mode excitonique (a travers l'amelioration de la qualite cristalline de la couche de GaN) sont presentees et le couplage fort est observe pour la premiere fois en transmission |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00412515/document |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
