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Modélisation et caractérisation linéaire et non linéaire des filtres RF en technologie BAW et CRF et méthode pseudo-temporelle de test industriel
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Sahyoun, Walaa |
| Copyright Year | 2011 |
| Abstract | Les systemes de telecommunications actuels necessitent des filtres passe bande fonctionnant a des frequences comprises entre 1 GHz et 10 GHz pour les systemes les plus repandus, notamment la telephonie mobile. Les filtres actuels sont reportes, donc non integres sur silicium. Ils presentent certains inconvenients : cout, place occupee, incompatibilite avec les technologies silicium…Une solution consiste a utiliser des resonateurs a ondes de volume, plus communement appeles BAW (Bulk Acoustic Waves). Ils presentent l'avantage d'etre integrables sur silicium. De nouvelles architectures nommees CRF (Coupled Resonator Filter) font appel a des resonateurs a ondes de volume (BAW) mais aussi a des structures utilisant des couplages acoustiques entre differentes couches. L'objectif du travail propose est de modeliser les structures actuelles et en cours d'etudes pour obtenir des modeles de type circuits electriques. Ces modeles seront valides par des mesures effectuees au laboratoire sur des resonateurs BAW et sur des filtres qui sont realises par nos partenaires. La premiere partie des etudes portait sur le comportement RF sous faible et forte puissances, suivi du developpement d’un modele large bande simule sous ADS decrivant le comportement des filtres BAW sous faible et forte puissances. Une optimisation du temps de mesure en frequence est effectuee pour reduire le temps du test RF. La seconde partie de la these est orientee vers le developpement d'une nouvelle methode de test pseudo-temporelle des filtres hyperfrequences qui consiste a mesurer directement leur impact sur un signal numerique grâce au parametre «EVM» (Error Vector Magnitude). Ce parametre est relie au BER et nos travaux montrent qu’il permet egalement de retrouver en partie les parametres S et detecter les filtres defaillants a partir d’une seule mesure. Cette nouvelle technique permettant le test de filtres a partir d’un seul point de mesure permet de reduire le temps et le cout de caracterisation a des fins industrielles. Ce travail s'est deroule dans un cadre de collaborations avec le LETI et STMicroelectronics au sein du projet FAST labellise par le pole MINALOGIC. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00639427/document |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
