NDLI: Growth and characterisation of thermally-evaporated lithium fluoride thin films for high-energy radiation detectors

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Growth and characterisation of thermally-evaporated lithium fluoride thin films for high-energy radiation detectors

Content Provider	Semantic Scholar
Author	Vincenti, Maria Aurora Montereali, Rosa Maria Messina, Giuseppe Nichelatti, Enrico Mancini, Antonella Rufoloni, Alessandro
Copyright Year	2014
Abstract	Film sottili policristallini di fluoruro di litio (LiF) depositati per evaporazione termica su substrati di vetro sono stati caratterizzati mediante Microscopia a Forza Atomica (AFM), Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), spettri di trasmittanza e riflettanza ottica e Diffrazione a Raggi X (XRD). E’ stato utilizzato un modello teorico per valutare da misure spettrofotometriche alcune proprieta dello strato depositato, come lo spessore del film, la rugosita superficiale, la disomogeneita del materiale lungo l’asse di crescita, ecc.. Gli spettri di assorbimento ottico, di fotoluminescenza e di fotoeccitazione dei film sottili di LiF di diverso spessore sono stati misurati prima e dopo l’irraggiamento con un fascio di elettroni da 5 MeV. La tecnica di Spettroscopia Combinata di Eccitazione-Emissione (CEES) e stata applicata con successo per studiare il tipo di centri di colore prodotti dall’irraggiamento beta in questi film. Film sottili luminescenti di LiF sono attualmente oggetto di studio come rivelatori a lettura ottica, innovativi e versatili, di fasci di radiazione ad alta energia e di altre sorgenti di radiazione ionizzante.
File Format	PDF HTM / HTML
Alternate Webpage(s)	http://openarchive.enea.it/bitstream/handle/10840/4858/RT-2013-22-ENEA.pdf?sequence=1
Language	English
Access Restriction	Open
Content Type	Text
Resource Type	Article

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