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Etude des effets d'interface sur les propriétés en basse fréquence des couches minces ferroélectriques de Pb(Zr,Ti)O3
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Sama, Nossikpendou |
| Copyright Year | 2010 |
| Abstract | Les titano-zirconate de plomb PbZrTiO3 (PZT) de structure perovskite sont largement utilises dans l'industrie de l'electronique en raison de leurs excellentes proprietes dielectriques et electromecaniques. Le contexte actuel de l'innovation technologique est la miniaturisation et l'allegement des produits tout en en garantissant une fiabilite accrue. Aujourd'hui, nous sommes dans l'ere de la nanotechnologie et a cette echelle les effets d'interface Electrode/Ferroelectrique sur les proprietes des structures appelees classiquement MIM (Metal/Isolant/Metal) deviennent substantiels. L'objectif de cette these est d'etudier ces effets sur les proprietes des couches minces de PZT deposees par pulverisation cathodique rf magnetron. L'etude est basee sur la modelisation de la structure MIM comme des capacites en serie : la capacite ferroelectrique et celles des interfaces non ferroelectriques. Les investigations experimentales ont montre que les effets d'epaisseur sont causes par les effets d'interface qui sont la manifestation de la capacite d'interface chargee par un potentiel interne. La nature [oxyde (LaNiO3) ou metal (Pt)] de l'electrode superieure a une influence significative en termes d'effets d'epaisseur (sur les grandeurs er, Ec, d33eff) tandis que celle inferieure conditionne principalement la microstructure de la couche de PZT. Le LNO (un oxyde perovskite) se revele un materiau prometteur pour limiter les effets d'interface. La fatigue ferroelectrique qui s'est averee en correlation avec les effets d'epaisseur est une consequence de la degradation de l'interface. La structure LNO/PZT/LNO a une bonne endurance a la fatigue et est moins encline aux effets d'epaisseur. Une modelisation de la fatigue a ete proposee a partir des donnees experimentales. L'ultime etape de cette these a mis en exergue l'effet de la nature du substrat sur le mode de croissance et les proprietes electriques des films de PZT. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00588426/document |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
