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Injection électromagnétique et microscopie en champ proche
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Payet, Pierre |
| Copyright Year | 2018 |
| Abstract | Les microscopes en champ proche micro-ondes sont des outils emergents pour la caracterisation des materiaux. Dans ce travail, une sonde de champ proche a ete concue, decrite et analysee en termes de performance et de resolution. Cette sonde a ete associee a deux microscopes en champ proche micro-ondes. Le premier microscope est base sur de la reflectometrie en intensite et a permis d'evaluer la qualite et la resolution laterale de la sonde. Cette resolution peut atteindre une dimension sub-longueur d'onde ouvrant la voie pour une caracterisation locale des materiaux. La seconde experience presente la conception d'un banc de caracterisation des materiaux. Ce systeme met en œuvre un melangeur I/Q afin d'extraire l'information en intensite et en phase de l'interaction en champ proche. Enfin, la derniere experience concerne l'injection electromagnetique en champ proche d'un signal hors-bande sur un module de communication. L'ensemble des resultats montrent que l'experience d'injection en champ proche a le potentiel pour devenir un outil de metrologie important pour l'etude de la susceptibilite. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02091248/file/PAYET_2018_archivage_cor.pdf |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |