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Contribution à l’analyse de la susceptibilité des composants électroniques à des perturbations transitoires : caractérisation et modélisation des éléments de protection
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | M'Hamed, Bruno Ben |
| Copyright Year | 2010 |
| Abstract | La presence de systemes embarques faisant appel a l’electronique s’est intensifiee aussi bien dans les domaines civils et militaires. De plus, l’augmentation des frequences d’horloges et des densites d’integration s’accompagne d’une baisse des marges d’immunite au bruit, ce qui accroit la sensibilite des circuits aux parasites electromagnetiques externes. En parallele, le nombre de perturbateurs potentiels ne cesse de croitre. Se pose alors le probleme de leur cohabitation avec les systemes. Le contexte de notre etude nous amene a analyser l’influence du couplage d’une perturbation de type intentionnel (AGREMI) sur les systemes electroniques. A l’echelle des cartes electroniques, les premiers elements qui vont interagir avec ce signal sont les elements de protection. Les travaux realises durant cette these de doctorat ont consiste a developper une methodologie analytique et experimentale permettant d’evaluer le comportement en regime transitoire des protections presentes dans les circuits electroniques en apportant une attention particuliere au comportement des charges et aux effets non-lineaires des capacites parasites. La fiabilite de la methodologie a ete evaluee sur des protections discretes (“Off-Chip”) et sur des etages de protections (“On-Chip”) des circuits integres numeriques. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | http://aurore.unilim.fr/theses/nxbigfile/default/81a2f024-301f-467e-b07d-748c5a35fba1/blobholder:0/2010LIMO4049.pdf |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |
