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Modélisation physique de la structure électronique, du transport et de l'ionisation par choc dans les matériaux IV-IV massifs, contraints et dans les puits quantiques
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Richard, Soline |
| Copyright Year | 2004 |
| Abstract | Ce travail est consacre a l'etude des phenomenes physiques dans les composants a base d'alliage SiGe en presence de fort champ electrique donc mettant en jeu des porteurs tres energetiques susceptibles d'induire de l'ionisation par choc. A l'aide d'une methode k. P a 30 bandes, nous avons modelise les structures electroniques completes du Si, du Ge et des alliages Si1-xGex massifs et contraints sur une large gamme d'energie (11 eV autour de la bande interdite) avec une tres grande precision sur les masses effectives. Associee au formalisme de la fonction enveloppe, cette methode nous a fourni les relations de dispersion des sous-bandes en bande de valence et de conduction de puits quantiques a base d'alliages SiGe. Pour integrer les structures electroniques dans la simulation du transport, nous avons calcule les densites d'etats pour des structures electroniques 3D et 2D. Nous avons aussi obtenu les masses de densite d'etats en fonction de la temperature dans les alliages SiGe massifs et contraints sur Si. Le chapitre 4 est consacre a l'etude du transport dans les alliages SiGe a partir d'une resolution deterministe de l'equation de Boltzmann. A l'aide des masses de densite d'etats, nous avons calcule les mobilites des trous dans le SiGe. A partir de la simulation du transport a fort champ electrique des electrons dans le Si contraint sur SiGe et des trous dans le Ge contraint sur SiGe, nous avons obtenu les coefficients d'ionisation par choc dans ces materiaux. Des mesures electro-optiques de HFET et de diodes SiGe ont ete realisees au cours de la these. Les resultats experimentaux ont ete compares a des resultats de modelisation ; les accords obtenus sont raisonnables. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00008310/document |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |