In-situ XAFS study of atomic and electronic structure in the ionic liquid 1-ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide under electric field

Content Provider	Semantic Scholar
Author	Entani, Shiro Honda, Mitsunori Naramoto, Hiroshi Sakai, Seiji
Copyright Year	2016
Abstract	イオン液体は,イオン電導性,難揮発性,難燃 性などの興味深い性質を示すことから,電解液や 溶媒としての応用が期待されている。本研究では, 電界印加下のイオン液体の原子構造および電子 状態を明らかにするため,XAFS を用いたその場 観察を行った。 Fig.1 に実験装置の概念図を示す。電極間に 1エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフロオロメタンスルホニル)イミド(EMIM TFSI)を 3L 滴下し,電界印加下の S K-edge XAFS スペクトルを蛍光収量法により測定した[1,2]。 Fig.2に EMIM TFSIの S K-edge NEXAFS スペクトルを示す。電界印加により 2480 eV付近のピ ーク強度が増大した。同ピークは主に N 2p, O 2pと S 3pとの原子軌道から成るため,電界により S=O および S-N の電子状態が変調されることが分かった。EXAFS 解析結果から(Fig.3),S=O お よび S-N に帰属されるピーク強度について変化がみられることから,電界印加と原子構造の相関 性について議論する。
File Format	PDF HTM / HTML
Alternate Webpage(s)	https://confit.atlas.jp/guide/event-img/jsap2016a/14p-B5-7/public/pdf?type=in
Language	English
Access Restriction	Open
Content Type	Text
Resource Type	Article