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CARACTERIZACIÓN DEL ESPESOR DE PELÍCULAS DELGADAS DE NANOPARTÍCULAS DE ORO EMBEBIDAS EN TiO2 SOBRE PRÓTESIS DE TITANIO MEDIANTE INTERFEROMETRÍA LÁSER
| Content Provider | Semantic Scholar |
|---|---|
| Author | Basilio, Ing. Mendoza Alfonso, Carlos |
| Copyright Year | 2011 |
| Abstract | En esta investigacion se emplean los principios de la optica ondulatoria para estudiar una estructura biomecanica recubierta con un material nanoestructurado. Se estudio una pelicula delgada de dioxido de titanio con nanoparticulas de oro embebidas y depositadas por la tecnica sol-gel sobre una protesis de titanio. Para la determinacion de su espesor se desarrollo en este trabajo un interferometro tipo Michelson, el cual genera la superposicion de dos haces provenientes de la misma fuente luminosa para efectuar la medicion. La interferencia de haces de luz en este interferometro origina un patron de anillos o de franjas, que responden a cambios en el camino optico de los haces. De esta cualidad resulta que este sea un dispositivo de alta precision, dado que trabaja con longitudes de onda de la luz empleada como patron de medida. El dispositivo desarrollado en este trabajo, presenta la suficiente rigidez para mantener las pieza en su posicion, sin que esta presente desviaciones considerables en su desplazamiento, ademas de tener la capacidad de dimensionar peliculas delgadas sobre piezas que resultan demasiado robustas para llevarlas a cabo en otros dispositivos, como en un microscopio de fuerza atomica. Para la manufactura del mecanismo, inicialmente se implementaron varios prototipos hasta llegar a un diseno preliminar. Se emplearon herramientas de diseno asistido por computadora (CAD) para realizar el modelado del dispositivo, y seguidamente se maquinaron y ensamblaron las piezas del diseno final del interferometro. La evaluacion del sistema interferometrico permitio conocer las posibilidades de aplicacion en otros tipos de analisis y/o caracterizacion de superficies. El dispositivo trabajando con una fuente de luz de 488 nanometros de longitud de onda, muestra la capacidad de identificar la morfologia de superficies con una precision de +244 nanometros, sobre caras metalicas planas con alta reflectividad, como las protesis de titanio. |
| File Format | PDF HTM / HTML |
| Alternate Webpage(s) | https://www.repositoriodigital.ipn.mx/bitstream/123456789/13175/1/CAMB.pdf |
| Language | English |
| Access Restriction | Open |
| Content Type | Text |
| Resource Type | Article |